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[专利] 一种量子产率的测试方法
出售价格: 面议

专利分类:发明

专利编号:CN201310120635.0

发明人:张春阳,胡娟

持有人:深圳先进技术研究院

  • 专利附图
  • 摘要
  • 交易流程
  • 过户材料
  • 具体描述

专利详情

Patent Detail

专利类别:发明 申请号: CN201310120635.0 申请日期:2013-04-09
公开日期:2015-06-03 专利名称: 一种量子产率的测试方法 发明人:张春阳,胡娟
法律状态:授权 申请人:深圳先进技术研究院 公开号:CN103226100B
主分类号:G01N21/64(20060101) 优先权号: 行业分类:物理
优先权日: 专利权人:深圳先进技术研究院

专利附图

Patent Picture

摘  要

Summary

公开了一种量子产率的测试方法,用于测试待测样品的量子产率Q,包括:提供量子产率为Q<Sub>r</Sub>的参比样品;提供折射率为n<Sub>r</Sub>的第一溶剂和折射率为n的第二溶剂,获得参比样品溶液/胶体和待测样品溶液/胶体;获得参比样品溶液/胶体的吸光度A<Sub>r</Sub>,和待测样品溶液/胶体的吸光度A;制备稀释因子为T<Sub>r</Sub>的参比样品稀释液,和稀释因子为T的待测样品稀释液;获得参比样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N<Sub>r</Sub>和单个分子或粒子的荧光强度I<Sub>r</Sub>,和待测样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N和单个分子或粒子的荧光强度I;计算单分子水平下的量子产率<Image file="DDA00003024470600011.GIF" he="52" imgContent="undefined" imgFormat="GIF" wi="256"/>该测试方法简单,测量准确性较高,为量子产率计算提供了理论方法。

交易流程

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