本实用新型提供一种集成电路测试装置，包括夹具头、测试针模、测试电路板、控制开关和电源。集成电路放置于测试针模上，测试针模内具有探针，测试电路板与探针电性连接。当夹具头处于第一位置时，控制开关与电源导通，并且夹具头压于测试针模上，使集成电路与探针电性导通，构成测试电路，此时集成电路处于测试状态，实现集成电路的测试。当夹具头处于第二位置时，控制开关与电源断开，集成电路与探针分离，且测试电路断开，此时集成电路处于未测试状态，集成电路中没有电流通过，避免了现有技术中集成电路与测试探针一直导通或者部分引脚导通而容易损坏探针和集成电路的问题，保护了集成电路，提高了集成电路的良率。